BeamOn X компактная камера для анализа профиля пучка начального уровня

Особенности:

• Разрешение 1 микрон.
• Минимальный диаметр 30 мкм.
• CMOS визуализация
• Пятно овальной формы
• Спектральный диапазон — 350-1310 нм
• Точное позиционирование центроида, измерение профиля луча и распределения энергии
• Встроенное колесо светофильтров.
• Частота кадров: 50 fps в стандартном режиме, сотни fps в расширенном режиме.
• Широкий динамический диапазон 60 дБ.
• Работа с параллельными (коллимированными пучками).
• Возможность работы во множестве областей (секций) – анализ VCSEL лазеров.
• Удобное и гибкое программное обеспечение.
• Вес всего 300 г.
• Возможность внешней синхронизации по hardware или по software.